㈠ 测井数据处理程序
本章集中介绍平台所有裸眼井解释评价处理模块。孔隙度解释程序(POR)、泥质砂岩解释程序(SAND)、复杂岩性解释程序(CRA)、黏土分析程序(CLASS)、多功能分析程序(PROTN)等适用于裸眼井剖面的解释评价处理模块。
POR程序用一种孔隙度测井资料加上泥质指示和电性资料对泥质砂岩进行模型分析的解释程序。
CRA程序适用于骨架成分两种以上的复杂的碳酸盐岩剖面，并且要求至少有两种孔隙度测井资料。
SAND程序适用于砂泥岩剖面，并且要求至少有两种孔隙度测井资料。
PROTN程序是从油藏物理学的基本概念出发，以油、气、水在微观孔隙中的分布和渗流理论为依据，发展而成的多功能解释系统。该程序以测井信息的还原为基础，目的在于求解反映地层静态和动态特性的一系列地质参数。
CLASS程序适用于砂泥岩剖面。方法设计思想为:在泥质砂岩储集层中，影响储集层参数精确度的主要因素是泥质的性质、成分、含量以及泥质存在于储层中的结构。黏土类型如:蒙脱石、伊利石、高岭石和绿泥石，定量确定泥岩中各种黏土的百分含量是本方法的最大优点所在，进而能精确消除泥岩对储集层参数的影响。
此外，还有多矿物判别和计算程序。具有代表性的是Geoframe的ELAN和我国自主开发的LESS程序等。
7.3.1 孔隙度解释程序(POR)
孔隙度解释程序POR是美国Atlas公司的单孔隙度测井泥质砂岩分析程序。其主要特点是简单实用，所要求输入的测井曲线数目少，在地质情况比较简单的情况下可以得到较好的解释结果，且本程序的结构是目前常规测井解释软件的典型模式，因此目前国内仍普遍使用，或针对地区条件作了改进后使用。
下面介绍它的解释原理，以期获得对常规测井资料处理软件的总体认识。
7.3.1.1 POR程序原理
(1)输入、输出曲线
输入曲线为:补偿中子(CNL)、体积密度(DEN)、声波时差(AC)、自然电位(SP)、自然伽马(GR)、井径(CAL)、深探测电阻率(RT)、浅探测电阻率(RXO)、感应(COND)、中子测井(NEU)、中子寿命(NLL)。
值得注意的是，本模块的地质适用条件是砂泥岩剖面;需要至少有两种孔隙度测井资料，深浅电阻率曲线，和泥质指示曲线。
输出曲线为:泥质含量(SH)、地层含水饱和度(SW)、有效孔隙度(POR)、含烃重量(PORH)、含烃体积(PORX)、总孔隙度(PORT)、冲洗带含水孔隙度(PORF)、地层含水孔隙度(PORW)、微差井径(CALC)、产能指示(PI)、累计油气厚度(HF)、累积孔隙度(PF)、烃密度(DHYC)、渗透率(PERM)、出砂指数(BULK)。
(2)计算地层泥质含量
从各种测井方法的原理可知，几乎所有测井方法可用来求泥质含量，但每种方法都有其有利条件和不利因素。例如，自然伽马测井是求泥质含量的最有效方法之一，它假定地层的自然伽马放射性是由泥质造成的，但当地层含放射性矿物和有机质时，用自然伽马求出的泥质含量就偏高;又如自然电位对含分散泥质的水层适用，但对油气层求出的泥质就偏高。因此，求泥质含量的基本思路是:先用尽可能多的方法单独计算泥质含量，然后取其中最小值作为泥质含量，这是因为各种方法计算出的泥质含量反映的是泥质含量上限值。POR程序中最多可以采用五种最常用的方法:自然伽马(GR)、自然电位(SP)、补偿中子(CNL)、地层电阻率(RT)、中子寿命(NLL)计算泥质含量。
POR程序中，各种方法均统一按下面的经验公式计算泥质含量:
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式中:R(GSHLG，i)为解释层段内第i条曲线测井值;R(Gmin，i)为第i条曲线在纯砂岩处的测井值;R(Gmax，i)为第i条曲线在纯泥岩处的测井值;C(SH，i)为第i条曲线测井相对值;cGCUR为地区经验系数，对古近－新近纪地层为3.7，对老地层为2，它也可以由本地区的实际资料统计获得;VSHi为由第i条曲线求出泥质含量;i为任一条测井曲线，在程序中它们是按GR、SP、RT、CNL、NLL顺序排列。
在进行具体计算时，可通过标识符SHFG的值来选用计算泥质含量的测井方法。例如，当只采用GR计算VSH时，则令SHFG=1;当采用GR、SP、RT三种方法时，则令SHFG=135;或令SHFG=351等任意排序法;当选用五种方法时，SHFG代表的数字不得超过双字节所表示的十进制数，即215－1=32767。最终程序将通过取整留余法选择所采用各种方法求出的VSH的最小值作为最终泥质含量，即Vsh=min(Vshi)，i=1，2，…，5。
需要指出的是上述经验公式是Atlas公司在美国海湾地区用自然伽马相对值确定泥质含量的经验关系，后来又推广应用于其他测井方法。
(3)计算地层孔隙度
POR程序采用单矿物含水泥质岩石模型来计算孔隙度。用户可以通过程序控制标识符PFG来选用三种孔隙度测井中的任一种方法计算孔隙度，在实际计算时只进行泥质校正，而未作油气影响校正。
1)密度测井(PFG=1)。
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式中:ρb为密度测井值，g/cm3;ρf、ρma分别为孔隙流体和岩石骨架的密度值，g/cm3。
2)声波测井(PFG=2)。
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式中:Δt为声波时差，μs/m;Δtf、Δtma分别为孔隙流体与岩石骨架的声波时差值μs/m;Cp为地层的压实校正系数。
3)补偿中子测井(PFG=3)。一般采用忽略骨架含氢指数的计算方法，即:
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式中:φN为补偿中子测井值，%;φNsh为泥质的中子测井值，%。
当Vsh大于泥质截止值(SHCT)时，认为地层为泥岩，此时程序将计算的孔隙度再乘以系数(1－Vsh)，即φ·(1－Vsh)作为孔隙度值，以便把泥岩与砂岩区别开来。
(4)计算地层含水饱和度Sw
可通过选择含水饱和度标识符SWOP，用下列三个公式之一计算含水饱和度。
1)SWOP=1，采用Simandoux公式的简化形式:
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式中:Rw、Rt和Rsh分别为地层水电阻率、地层真电阻率和泥岩电阻率。
2)SWOP=2，采用Archie公式:
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式中:a为岩性系数，m为胶结指数，n为Archie公式中的饱和度指数。通常取a=1，n=2，按m=1.87+0.019/φ计算m。当φ>0.1，令m=2.1;当m>4，m=4。
3)SWOP=3，仍用Archie公式，但规定a=0.62，m=2.15，n=2。
(5)计算地层渗透率
POR程序中采用Timur公式计算地层绝对渗透率:
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式中:Swb为束缚水饱和度(%);φ为孔隙度(%);k为绝对渗透率(10－3μm2)。
(6)计算其他辅助地质参数
1)计算地层含水孔隙度φw，与冲洗带含水孔隙度φxo:
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显然，两者之差(φxo－φw)=φ·(Sxo－Sw)表示地层中可动油气孔隙度，而φ－φw则表示地层中含油气孔隙度。
2)经验法估计冲洗带残余油气饱和度Shr:
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式中:SSRHM为残余油气饱和度，与含油气饱和度相关的地区经验系数(隐含值0.5)。
3)冲洗带残余油气相对体积(Vhr)及残余油气质量(mhr):
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式中:ρh油气密度，g/cm3。
计算这两个参数的作用在于，当油气密度可靠时可用Vhr和mhr划分油气界面。显然，对油层来说，Vhr=mhr对气层Vhr≥mhr。这里是仅就数值而言。
4)累计孔隙厚度(PF)和累计油气厚度(HF):
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式中:Δh为测井曲线采样间隔(通常为0.125m或0.1m);φi为第i个采样点的孔隙度(小数)。
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式中:Swi为第i个采样点用测井资料计算的含水饱和度。
PF和HF表示从某一深度开始累计得到的纯孔隙厚度和纯油气厚度。在解释成果图上，通常在某些深度位置上用短线表示，每相邻短线之间累计孔隙厚度或累计油气厚度为1m或1ft。处理井段的短线越多，说明地层孔隙越发育或油气越多。如处理井段共有N个，该井控制面积为S，则处理井段油气体积Vh=N·So。
5)出砂指数(BULK)
这是用来表示砂岩强度和稳定性的参数，其计算方法出下式给出:
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式中:ρb为密度测井值(g/cm3);Δt为声波测井值(μs/ft);Ibulk为出砂指数(106lb/in2或≈7.04×108kg/m2)，数值范围一般在1～10之间。
该参数用于指导采油作业，经验表明:当Ibulk≥3时，正常求产方式下采油不出砂;否则就会出砂，这时应减小油嘴生产，可不出砂或少出砂。
上述整个POR分析程序的处理过程可用图7.3.1中的计算框图指示。
图7.3.1 POR程序的计算框图
7.3.1.2 成果显示
图7.3.2为测井数据处理成果图，此图实际上是一张随深度变化的岩石物理参数曲线图，通常由以下几部分组成。
(1)深度标识区
这部分用于打印深度标记和解释结论。
(2)地层特性
在泥质砂岩地层中，通常用泥质含量和渗透率的变化说明砂泥岩的地层特性。曲线显示位于左侧第一道。泥质含量曲线一般采用线性刻度，左值为0，右值为100%;渗透率曲线一般采用对数刻度，左值为10000，右值为0.1。
图7.3.2 POR程序处理成果图
(3)油气分析
油气分析位于成果图上第二道内。主要包括地层水饱和度曲线、残余油气体积和残余油气质量。它们均采用线性刻度。三者结合可划分油、气、水界面和识别油、气、水层。POR程序中残余油气体积和残余油气质量虽能够被计算出来，但这两条曲线的应用效果取决于以参数形式提供油气密度的准确性。因此，有的POR数字处理成果图上干脆不显示这两条曲线。
(4)孔隙度分析
孔隙度分析也叫流体分析，位于成果图上第三道，通常包括地层孔隙度φ，含水孔隙度φw和冲洗带含水孔隙度φxo三条曲线。三者重叠可显示地层水、残余油气和可动油气的含量。通常残余油气涂黑表示，它代表φ－φxo的幅度差;可动油气打点显示，它代表φxo－φw的幅度差。
(5)地层体积分析
地层体积分析也叫岩性分析，通常位于数字处理成果图上第四道。本道通过显示地层孔隙度、泥质含量和各种骨架矿物的相对体积来表示地层孔隙度和岩性随地层变化的情况，本道同时应用曲线重叠技术把地层岩性用特定的岩性符号在图上区分开来。如泥质砂岩剖面上，POR程序用Vsh、Vsand和φ三条曲线重叠就可表示出地层中泥质、砂岩和孔隙相对体积的变化。
7.3.2 复杂岩性分析程序(CRA)
砂泥岩剖面测井分析程序PORP等都是只采用一种孔隙度曲线加上其他有关资料对泥质砂岩进行分析，所以只能求得一种矿物(即石英)成分，剖面上也只能显示出POR和SH两条曲线。复杂岩性分析模块，是基于两种孔隙度测量资料交会于理论图版上，可以判断出岩性含量，从而计算出孔隙度(图7.3.3)。例如，用A点到灰岩线的距离与在A点处灰岩线到白云岩线距离的比值，确定A点的白云岩含量;同理计算出灰岩含量。根据两条岩性的孔隙度刻度，判断出孔隙度值。
图7.3.3 CRA中利用中子－密度交会识别岩性孔隙度
一个理想的两种骨架成分组成的模型，总的含量应该是:矿物1+矿物2+孔隙度+泥质含量=1。
CRA程序适用于骨架成分两种以上的复杂的碳酸盐岩剖面，并且要求至少有两种孔隙度测井资料。它能计算出两种或两种以上的矿物成分和孔隙度、泥质含量、含水饱和度等储层参数。它除了能计算出一般的砂岩、灰岩、白云岩和硬石膏之外，还可以加入四种附加矿物，能处理出八种分离矿物。
CRA程序本身还具有编辑功能，并对测井仪器进行校正。用五种方法求孔隙度和矿物体积，用六种方法计算含水饱和度，并有一套较完善的油气校正方法。
7.3.2.1 CRA程序基本原理
(1)输入、输出曲线
程序中最多可以输入17条曲线，即补偿中子(CNL)、体积密度(DEN)、声波时差(AC)、自然伽马(GR)、钍(THOR)、钾(K40)、铀(UR)、能谱测井总计数率(TC)、井壁中子(PORS)、自然电位SP、深探测电阻率(RT)、浅探测电阻率(RXO)、中子寿命(SGMA)、中子寿命测井(G2)、中子寿命短/长之比(RATO)、钍－钾指数(TPI)、井径(CAL)。
值得注意的是:CRA程序在地质方面适合于两种以上骨架成分，在资料方面要求至少有两种孔隙度测井资料、一种泥质指示和电阻率资料。
输出曲线共28条:砂岩体积(SAND)、石灰岩体积(LIME)、白云岩体积(DOLO)、硬石膏体积(ANHY)、视颗粒密度值(DGA)、视骨架声波时差值(TMA)、泥质含量(SH)、总孔隙度(PORT)、有效孔隙度(POR)、冲洗带含水孔隙度(PORF)、PORW地层含水孔隙度、次生孔隙度(POR2)、渗透率(PERM)、平均含烃体积(HYCV)、地层平均含烃重量(YCW)、地层含水饱和度(SW)、冲洗带含水饱和度(SXO)、微差井径(CALC)、视地层水电阻率(RWA)、视泥浆滤液电阻率(RMFA)、累计井眼体积(IBV)、钍－钾指数(TPI)、中子的最终校正值(CNEU)、密度的最终校正值(CDEN)。
(2)主要解释方程
1)计算孔隙度和矿物体积:
A.用交会方法求孔隙度。对三孔隙度测井曲线进行泥质校正，其校正公式为:
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用交会法计算孔隙度和矿物体积。当PRFG=1时，用中子－密度交会(D/N);当PRFG=2时，用中子－声波交会(A/N)。
B.用单条测井曲线计算POR。当PRFG=3时，用DEN计算POR:
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当PRFG=4时，用AC计算POR:
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当PRFG=5时，用CNL求POR:
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2)计算地层含水饱和度。当SWOP=1时:
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当SWOP=2时:
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当SWOP=3时，用计算的M值:
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当SWOP=4时:
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当SWOP=5时，用印度尼西亚方程。
当SWOP=6时，用Borai方程。
3)计算渗透率PERM:
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4)计算次生孔隙度:
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5)计算油气体积和重量
A.油气相对体积HYC:
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B.油气相对重量HYCW:
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6)累计油气体积和孔隙体积:
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图7.3.4 CRA程序计算实例
7.3.2.2 成果显示及实例
如图7.3.4为我国川东北南门场地区的一口井，目的层为嘉陵江组碳酸盐地层，其岩性主要为灰岩、白云岩和石膏，故选择CRA程序进行数据处理。测井响应特征为:电阻率为200Ω·m，三孔隙度曲线表现为中子值增大，密度值减小，声波值增大，为气层响应特征。用中子－密度交会识别岩性和计算孔隙度，计算的孔隙度约为6.0%～12.0%，渗透率约为20×10－3μm2。因此，解释以Ⅱ、Ⅲ类气层。
图7.3.5 SAND程序计算实例
7.3.3 泥质砂岩分析程序(SAND)
砂泥岩分析模块，是用两种孔隙度测井曲线交会，根据各测井资料的砂岩骨架点、黏土点和水点所确定的三角形，凡是落在三角形内的交会点，都可以分析出该点的黏土含量和含水孔隙度，经过油气校正可以得到地层孔隙度。
SAND程序主要是针对泥质砂岩地层进行分析，通过对骨架点、黏土点和水点的确定，计算出三角形内任意点的含水孔隙度和黏土含量，在计算过程中对泥质和油气影响进行校正，得到地层孔隙度。还计算出泥质含量、粉砂指数、含水饱和度、渗透率、含烃重量、含烃体积，该程序能判断煤层。
7.3.3.1 SAND基本原理
(1)输入、输出曲线
输入曲线为:补偿中子(CNL)、体积密度(DEN)、声波时差(AC)、自然电位(SP)、自然伽马(GR)、井径(CAL)、深探测电阻率(RT)、浅探测电阻率(RXO)、感应(COND)、井壁中子(SWN)、中子测井(NEU)、来自中子寿命测井的比值曲线(RAT)、中子寿命(NLL)、能谱曲线(SPEC)、泥岩基线(SBL)、用来计算泥质体积的任一测井曲线(SLOG)。
值得注意的是，本模块的地质适用条件是砂泥岩剖面;需要至少有两种孔隙度测井资料，深浅电阻率曲线，和泥质指示曲线
输出曲线为:泥质含量(SH)、地层含水饱和度(SW)、有效孔隙度(POR)、含烃重量(PORH)、含烃体积(PORX)、总孔隙度(PORT)、冲洗带含水孔隙度(PORF)、地层含水孔隙度(PORW)、微差井径(CALC)、产能指示(PI)、累计油气厚度(HF)、累积孔隙度PF、烃密度(DHYC)、碳的体积(CARB)、渗透率(PERM)、地层温度(TEMP)、分散黏土占总孔隙度百分比(Q)、黏土体积(CL)、煤指示(CI)(等于1时是煤的指示)。
(2)解释方法
1)计算泥质含量SH。
A.通用方法:
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式中:Glog为由SHFG指定的任一种计算SH的曲线值;Gmax、Gmin为相应曲线的极大值和极小值。
B.选用GR计算泥质时极大值和极小值的深度漂移校正。
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C.选用SP计算时有另外两种方法。
用输入的静自然电位(SSP)和泥岩基线(SBL):
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用输入的SBL1和SBL2作为泥岩基线:
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D.交会图法求泥质含量。
当SHF1=0，SHF2=1用NEU－AC交会;
当SHF1=0，SHF2=2用DEN－AC交会;
当SHF1=0，SHF2=3用DEN－NEU交会;
当SHF1=0，SHF2=4用Q求SH。
2)计算孔隙度(POR)和黏土含量(CL)。
采用密度－中子交会的方法来计算地层孔隙度和黏土含量，在计算的过程中用迭代法对轻烃的影响进行了校正。当黏土含量VCL>=37%时，对孔隙度进行泥质校正。
用迭代方法对中子、密度进行反复的泥质、轻烃校正，当视流体密度(DF)=1时，认为已经消除了轻烃的影响，此时的孔隙度用DEN计算即可。
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3)计算地层含水饱和度Sw。
A.当SWOP=1时，用阿尔奇公式，选固定参数值A、M、N值作为输入参数值。
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B.当SWOP=2时，用Fertl公式:
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式中:b为输入参数。
C.当SWOP=3时，用阿尔奇公式，参数值这样选择:
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如果φ>0.1，m=2.1;如果m>4，m=4;a=1，n用输入的参数值。
D.SWOP=4时，用如下:
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4)计算渗透率PERM。
A.当PRFL=1时:
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B.当PRFL=2时:
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C.当PRFL=3时
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D.当PRFL=4时:
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E.当PRFL=5时:
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F.当PRFL=6时:
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G.当PRFL=7时:
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H.当PRFL=8时:
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5)计算油气相对密度和重量。
A.油气相对密度(DHYC):
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B.油气相对重量PORH:
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6)累计油气体积和孔隙体积。
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7.3.3.2 成果显示及实例
如图7.3.6为厄瓜多爾尔尔Dorine区块的一口井。该区块地层为薄互层泥质砂岩，测井资料又有用中子、密度测井资料，故采用双矿物交会技术识别岩性和计算地层孔隙度。采用的参数:岩性骨架密度(DG)=2.64g/cm3;流体密度(DF)=0.95g/cm3。图中最右道为ELANGeoframe的多矿物分析模块ELAN处理结果和岩心实验数据(离散数据)。可以看出，SAND计算结果与岩心分析和ELAN处理结果是一致的。
图7.3.6 SAND程序计算实例1ft≈0.3048m
7.3.4 多功能解释程序(PROTN)
多功能解释程序(PROTN)是从油藏物理学的基本概念出发，以油、气、水在微观孔隙中的分布和渗流理论为依据，发展而成的多功能解释系统。该程序以测井信息的还原为基础，目的在于求解反映地层静态和动态特性的一系列地质参数，因此，它是多种测井解释方法的组合。
7.3.4.1 PROTN程序原理
多功能解释程序PROTN在测井评价方法中引入了一个新的理论———多相流体在微观孔隙中渗流理论。这一理论认为地层的产液性质主要取决于油、气、水在孔隙中各自(或相对)的流动能力。也就是说，对一个含油储集层到底是产油还是产水或是油水同出，完全取决于储层中油、气、水的相对渗透率的大小，即取决于油、气、水在地层孔隙中的相对流动能力。
目前，改程序主要应用于砂泥岩剖面的裸眼井解释，整个解释过程采用的仍然是常规测井系列，具有以下三个方面的解释功能:
1)可用于探井、开发井和调整井全过程的油气评价。定量确定地层的产液性质、预测其产水率、产油(气)率和生产能力。
2)可定量描述产层的水淹状况和剩余油分布。其中包括定量确定产层的水淹部位、厚度和水淹程度，求解产层的剩余油饱和度、驱油效率和产水率，揭示它们在层内和层间的分布特点。
3)提供一种有利于全面评价产层，并进一步开展油藏工程研究的测井解释系统。应用现有的测井信息，目前能够比较全面地求解9种类型23种地质参数。其中包括:反映储集层岩性特点的粒度中值和粉砂含量;反映地层产液性质的束缚水饱和度、可动水(或水淹)饱和度、剩余油饱和度、可动油饱和度、产油率和产水率;反映相渗透率特性的油水相渗透率和有效渗透率;反映油气层产能的每米采油指数;反映采收程度的驱油效率以及垂直和水平方向的渗透率与其他常规的地质参数。
经过二次开发，PROTN程序还具备自动判别解释结论的功能。
(1)输入、输出曲线
程序要求必须有中子、密度测井曲线、一条泥质指示曲线和电性曲线输入，有能谱测井曲线时处理结果可以更精确。允许作为输入的曲线有:自然伽马测井(GR)、补偿中子测井(CNL)、自然电位测井(SP)、密度测井(DEN)、声波测井(AC)、深电阻率测井RT、电导率(COND)、冲洗带电阻率(RXO)、井径(CAL)中子寿命测井(NLL)。
输出曲线有:有效孔隙度(POR)、含水孔隙(PORW)、冲洗带含水孔隙度(PORF)、总孔隙度(PORT)、流体孔隙度(PORX)、油气重量PORH、累计含烃量(HF)、累计孔隙度(PF)、渗透率(PERM)、含水饱和度(SW)、泥质含量(SH)、微差井径(CALC)、黏土含量(CL)(其值等于SH)、残余烃密度(DHY)、冲洗带含水饱和度(SXO)、束缚水饱和度(SWIR)、水的有效渗透率(PERW)、油的有效渗透率(PERO)、水的相对渗透率(KRW)、油的相对渗透率(KRO)、产水率(FW)、泥质和粉砂含量(SHSI)。
(2)主要解释方程
1)计算泥质体积VSH
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式中: ，SSHLG为SHFG所指定的任一种计算SH的曲线值Gmax、Gmin为相应曲线的极大值和极小值。
2)计算孔隙度φ:
A.用DEN计算:
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B.用AC计算:
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C.用CNL计算:
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3)计算饱和度SW。
饱和度的计算方法有三种:
A.
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B.用计算的M值计算Sw:
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C.用输入的M值计算Sw:
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4)计算束缚水饱和度Swb:
φ>=0.2时:
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式中:Md为粒度中值。
5)计算相对渗透率(KRO)和(KRW)。
A.一种比较普遍的形式:
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式中:m、n、h是与地层的岩性和固结程度有关的经验系数，同时也受岩石的润湿性和
流体的黏度比的影响，它们各自的变化范围为:
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B.琼斯方程:
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C.彼尔逊方程:
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D.乘方法:
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6)计算有效渗透率PERO和PERW:
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式中:C为修正系数，其值约为0.6～0.9。
图7.3.7 PROTN数据处理实例
7)计算绝对渗透率PERM:
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8)计算产水率Fw:
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7.3.4.2 成果显示及实例
如图7.3.7为胜利油区孤岛油田馆陶组的一口井。该段岩性以粉砂岩为主，夹含砾砂、细砂及泥岩。储层较发育，单层厚度一般在0.9～17.3m，储层测井响应特征为:自然电位负异常较大，自然伽马数值在60～105API左右，深感应电阻率数值在2.0～10Ω·m之间，泥岩电阻率一般为1.0～2Ω·m。3号层(1044.0～1050.1m)，电导率的凸起方向与自然电位负异常呈反向对应关系，气层特征明显，用PROTN数字处理计算的平均孔隙度为38.8%，平均渗透率为3693.0×10－3μm2，含气饱和度约54.4%，解释该层为气层，厚度6.1m。4号层(1139.3～1148.6m)，电导率的凸起方向与自然电位负异常呈反向对应关系，水淹层特征明显，用PROTN处理计算的平均孔隙度为35.2%，平均渗透率为1518.5×10－3μm2，含油饱和度约64.8%，综合分析认为该层为水淹层。
㈡ 自然电位测井
自然电位测井是沿井身测量岩层或矿体在天然条件下产生的电场电位变化的一种测井方法。自然电位测井诞生于1931年，是世界上最早使用的测井方法之一，测量简便且实用意义很大，所以至今依然广泛应用。
在生产实践中人们发现，将一个测量电极放入裸眼井中并在井内移动，在没有人工供电的情况下，仍能测量到电场电位变化。这个电位是自然产生的，所以称为自然电位。
1.1.1 井中自然电位的产生
研究表明，井中自然电位包括扩散电位、扩散吸附电位、过滤电位和氧化还原电位等几种。钻井泥浆滤液和地层水的矿化度(或浓度)一般是不相同的，两种不同矿化度的溶液在井壁附近接触产生电化学过程，结果产生扩散电位和扩散吸附电位;当泥浆柱与地层之间存在压力差时，地层孔隙中产生过滤作用，从而产生过滤电位;金属矿含量高的地层具有氧化还原电位。
在石油井中，自然电位主要由扩散电位和扩散吸附电位组成。
1.1.1.1 扩散电位
首先做一个电化学实验，实验装置如图1.1.1所示。用一个渗透性隔膜将一个玻璃缸分隔成左右两部分，分别往玻璃缸两边注入浓度不同的NaCl溶液(浓度分别为Cw和Cm，且Cw>Cm)，然后在两种溶液中各插入一个电极，用导线将这两个电极和一个电压表串联起来，我们可以观察到电压表指针发生偏转。
玻璃缸左右两边溶液的浓度不同，那么高浓度溶液中的离子受渗透压的作用要穿过渗透性隔膜迁移到低浓度溶液中去，这种现象称为扩散现象。对于NaCl溶液来说，由于Cl－的迁移率大于Na+的迁移率，因此低浓度溶液中的Cl－相对增多，形成负电荷的富集，高浓度溶液中的Na+相对增多，形成正电荷的富集。于是，在两种不同浓度的溶液间能够测量到电位差。虽然离子继续扩散，但是Cl－受到高浓度溶液中的正电荷吸引和低浓度溶液中的负电荷排斥作用，其迁移率减慢;Na+则迁移率加快，因而使两侧的电荷富集速度减慢。当正、负离子的迁移率相同时，电动势不再增加，但离子的扩散作用还在进行，这种状态称为动态平衡。此时接触面处的电动势称为扩散电动势或扩散电位。
图1.1.1 扩散电位产生示意图
在砂泥岩剖面井中，纯砂岩井段泥浆滤液和地层水在井壁附近相接触，如果二者的浓度不同，就会产生离子扩散作用。假设泥浆滤液和地层水只含NaCl，应用电化学知识，可由Nernst方程求出井壁上产生的扩散电位:
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式中:Ed为扩散电位，mV;l+、l－分别为正、负离子迁移率，S/(m·N);R为摩尔气体常数，等于8.313J/(mol·K);T为热力学温度，K;F为法拉第常数，等于96500C/mol;Cw、Cmf分别为地层水和泥浆滤液的NaCl质量浓度，g/L。
在溶液浓度比较低的情况下，溶液的电阻率与其浓度成反比，因此，式(1.1.1)可改写为:
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式中:Rw、Rmf分别为地层水和泥浆滤液的电阻率，Ω·m。令:
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称Kd为扩散电位系数，mV。则式(1.1.2)可简写为:
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利用式(1.1.3)可以计算溶液的Kd值。当温度为18℃时，NaCl溶液的Kd值为－11.6mV。
通常情况下，地层水的含盐浓度大于泥浆滤液的含盐浓度，即Cw>Cmf，因此扩散结果是地层水中富集正电荷，泥浆中富集负电荷。
1.1.1.2 扩散吸附电位
如果用泥岩隔膜替换上述实验中的渗透性隔膜，而不改变其他条件，重新进行实验，会出现什么现象呢?通过观察，发现电压表指针朝相反方向偏转，表明浓度大的一侧富集了负电荷，而浓度小的一侧富集了正电荷(图1.1.2)。
图1.1.2 扩散吸附电位产生示意图
用泥岩隔膜将两种不同浓度的NaCl溶液分开，两种溶液在此接触面处产生离子扩散，扩散总是从浓度大的一方向浓度小的一方进行。由于黏土矿物表面具有选择吸附负离子的能力，因此当浓度不同的NaCl溶液扩散时，黏土矿物颗粒表面吸附Cl－，使其扩散受到牵制，只有Na+可以在地层水中自由移动，从而导致电位差的产生。这样就在泥岩隔膜处形成了扩散吸附电位。
在砂泥岩剖面井中，泥岩井段泥浆滤液和地层水在井壁附近相接触，产生的扩散吸附电位可以表示为:
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式中:称Kda为扩散吸附电位系数，它与岩层的泥质阳离子交换能力Qv有关。在Qv接近极限值的情况下，岩石孔隙中只有正离子参加扩散，可看作Cl－的迁移率为零，因此由式(1.1.3)得到Kda:
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在溶液浓度比较低的情况下，式(1.1.5)可改写为:
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1.1.1.3 过滤电位
溶液通过毛细管时，毛细管壁吸附负离子，使溶液中正离子相对增多。正离子在压力差的作用下，随同溶液向压力低的一端移动，因此在毛细管两端富集不同符号的离子，压力低的一方带正电、压力高的一方带负电，于是产生电位差，如图1.1.3所示。
图1.1.3 过滤电位形成示意图
岩石颗粒与颗粒之间有很多孔隙，它们彼此连通，形成很细的孔道，相当于上述的毛细管。在钻井过程中，为了防止井喷，通常使泥浆柱压力略大于地层压力。在压力差的作用下，泥浆滤液向地层中渗入。由于岩石颗粒的选择吸附性，孔道壁上吸附泥浆滤液中的负离子，仅正离子随着泥浆滤液向地层中移动，这样在井壁附近聚集大量负离子，在地层内部富集大量正离子，从而产生电位差，这就是过滤电位。根据Helmholz理论，可以得出估算过滤电位的表达式:
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式中:Rmf为泥浆滤液电阻率，Ω·m;μ为泥浆滤液的黏度，10－3Pa·s;Δp为泥浆柱与地层之间的压力差，101325Pa;Aφ为过滤电位系数，mV。Aφ与溶液的成分、浓度有关。一般认为，在泥饼形成之前，当泥浆柱与地层之间压力差很大时，才能产生较大的过滤电位。由于油井泥浆柱与地层之间压力差不是很大，而且在测井时已形成泥饼，泥饼几乎是不渗透的，上述压力差降落在泥饼上，因此Eφ常忽略不计。
1.1.1.4 氧化还原电位
由于岩体的不均匀性，当它与泥浆接触而发生化学反应时，某一部分会因失去电子而呈正极性，另一部分则会因得到电子而显负极性，因此，二者之间便产生电位差，称为氧化还原电位。氧化还原电位仅产生于电子导电的固相矿体中，例如煤层和金属矿。沉积岩中基本没有氧化还原电位。
1.1.2 自然电位测井原理与曲线特征
1.1.2.1 自然电位测井原理
自然电位测井使用一对测量电极，用M、N表示，见图1.1.4。测井时，将测量电极N放在地面，电极M用电缆送至井下，沿井轴提升电极M测量自然电位随井深的变化，所记录的自然电位随井深的变化曲线叫自然电位测井曲线，通常用SP表示。
自然电位测井极少单独进行，而是与其他测井方法同时测量。例如，自然电位测井可以和电阻率测井同时测量。
1.1.2.2 井中自然电场分布与自然电位幅度的计算
以砂泥岩剖面井为例来说明井中自然电场分布特征。通常情况下，钻井过程中采用淡水泥浆钻进，泥浆滤液的浓度往往低于地层水的浓度。此时，在砂岩层段井内富集有负电荷，而在泥岩层段井内富集正电荷。由扩散电位和扩散吸附电位形成的自然电场分布如图1.1.5所示。
图1.1.4 自然电位测井原理图
图1.1.5 井中自然电场分布示意图
在砂岩和泥岩接触面附近，自然电位与Ed和Eda都有关系，其幅度可由图1.1.6(a)所示的等效电路求得。在此等效电路中，Ed和Eda是相互叠加的，这就是在相当厚的砂岩和泥岩接触面处的自然电位幅度基本上是产生自然电场的总电位E总的原因，其值为:
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式中:K为自然电位系数，mV。通常把E总称为静自然电位(SSP)，运算时写为USSP。此时Ed的幅度称为砂岩线，Eda的幅度称为泥岩线。
为了使用方便，实际自然电位测井曲线不设绝对零线，而是以大段泥岩对应的自然电位曲线作为其相对基线(即零线)。这样，巨厚的纯砂岩部分的自然电位幅度就是静自然电位值USSP。而实际上，在井中所寻找的砂岩储集层大部分是夹在泥岩层中的有限厚的砂岩，如图1.1.6(b)所示。此时，砂岩层处的自然电位异常幅度不等于SSP，用ΔUSP表示。假设自然电流I所流经的泥浆、砂岩、泥岩各段等效电阻分别是rm、rsd、rsh，由Kirchhoff定律得:
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所以，自然电流为:
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对于厚度有限的砂岩井段，其自然电位幅度ΔUSP定义为自然电流I在流经泥浆等效图1.1.6 计算USSP、ΔUSP值的等效电路图
电阻rm上的电位降，即ΔUSP=Irm，从而得到:
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整理得:
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对于巨厚层，砂岩和泥岩层的截面积比井的截面积大得多，所以rmrsd，rmrsh，因此ΔUSP≈USSP。而对于一般有限厚地层则ΔUSP<USSP。
1.1.2.3 自然电位测井曲线特征
针对目的层为纯砂岩、上下围岩为泥岩的地层模型，计算得到一组自然电位理论曲线，如图1.1.7所示，它是一组曲线号码为 (地层厚度/井径)的ΔUSP/USSP随深度变化的关系曲线。
理论曲线具有以下特点:曲线相对于地层中点对称;厚地层(h>4d，d为井径)的自然电位曲线幅度值近似等于静自然电位，且曲线的半幅点深度正对着地层界面深度，参见曲线号码 的曲线，与横坐标ΔUSP/|USSP|=0.5的直线相交的两点(即半幅点)正好和对应地层的界面深度一致;随着地层厚度的变薄，对应界面的自然电位幅度值离开半幅点向曲线的峰值移动;地层中点取得曲线幅度的最大值，随着地层变薄极大值随之减小(ΔUSP/|USSP|值接近零)，且曲线变得平缓。
实测曲线与理论曲线的特点基本相同，但由于测井时受井内环境及多方面因素的影响，实测曲线不如理论曲线规则。在早期的测井曲线图上，自然电位测井曲线没有绝对零点，而是以大段泥岩处的自然电位测井曲线作基线;曲线上方标有带极性符号(+，－)的横向比例尺，它与曲线的相对位置不影响自然电位幅度ΔUSP的读数。自然电位幅度ΔUSP的读数是基线到曲线异常极大值之间的宽度用横向比例尺换算出的毫伏数。现在采用计算机绘制测井曲线图，与其他常规测井曲线一样，自然电位测井曲线也具有左右刻度值，见图1.1.8。
图1.1.7 自然电位测井理论曲线
图1.1.8 自然电位测井曲线实例
在砂泥岩剖面井中，钻井一般用淡水泥浆(Cw>Cmf)，在砂岩渗透层井段自然电位测井曲线出现明显的负异常;在盐水泥浆井中(Cw<Cmf)，渗透层井段则会出现正异常。因此，自然电位测井曲线是识别渗透层的重要测井资料之一。
1.1.3 影响自然电位的因素
在砂泥岩剖面井中，自然电位曲线的幅度及特点主要决定于造成自然电场的总自然电位和自然电流的分布。总自然电位的大小取决于岩性、地层温度、地层水和泥浆中所含离子成分和泥浆滤液电阻率与地层水电阻率之比。自然电流的分布则决定于流经路径中介质的电阻率及地层的厚度和井径的大小。这些因素对自然电位幅度及曲线形状均有影响。
1.1.3.1地层水和泥浆滤液中含盐浓度比值的影响
地层水和泥浆滤液中含盐量的差异是造成自然电场中扩散电位Ed和扩散吸附电位Eda的基本原因。Ed和Eda的大小决定于地层水和泥浆滤液中含盐浓度比值 。以泥岩作基线，当Cw>Cmf时，砂岩层段则出现自然电位负异常;当Cw<Cmf时，则砂岩层段出现自然电位的正异常;当Cw=Cmf时，没有自然电位异常出现。Cw与Cmf的差别愈大，曲线异常愈大。
1.1.3.2岩性的影响
在砂泥岩剖面井中，以大段泥岩处的自然电位测井曲线作基线，在自然电位曲线上出现异常变化的多为砂质岩层。当目的层为较厚的纯砂岩时，它与围岩之间的总自然电位达到最大值，即静自然电位，此时在自然电位曲线上出现最大的负异常幅度。当目的层含有泥质(其他条件不变)时，总自然电位降低，因而曲线异常的幅度也随之减小。此外，部分泥岩的阳离子交换能力减弱时，会产生基线偏移，渗透层的自然电位异常幅度也会相对降低。
1.1.3.3温度的影响
同样岩性的岩层，由于埋藏深度不同，其温度是不同的，而Kd、Kda都与热力学温度成正比例，这就导致埋藏深度不同的同样岩性岩层的自然电位测井曲线上异常幅度有差异。为了研究温度对自然电位的影响程度，需计算出地层温度为t(℃)时的Kd或Kda值。为计算方便，先计算出18℃时的Kda值，然后用下式可计算出任何地层温度t(℃)时的Kda值:
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式中:Kda|t=18为18℃时的扩散吸附电动势系数，mV;t为地层温度，℃。Kd的温度换算公式与Kda的形式完全相同。1.1.3.4 地层水和泥浆滤液中所含盐的性质的影响
泥浆滤液和地层水中所含盐类不同，则溶液中所含离子不同，不同离子的离子价和迁移率均有差异，直接影响Kd或Kda值。
在纯砂岩井段中，地层水中所含盐类改变时，Kd也随之改变，见表1.1.1。因此，不同溶质的溶液，即使在其他条件都相同的情况下，所产生的Ed值也有差异。
表1.1.1 18℃时几种盐溶液的Kd值
1.1.3.5 地层电阻率的影响
当地层较厚并且各部分介质的电阻率相差不大时，式(1.1.12)中的rsd、rsh与rm相比小得多，此时对于纯砂岩来说ΔUSP≈USSP。当地层电阻率增高时，rsd、rsh与rm比较，则不能忽略，因此ΔUSP<USSP。地层电阻率越高，ΔUSP越低。根据这个特点可以定性分辨油、水层。
1.1.3.6 地层厚度的影响
从图1.1.7所示的自然电位理论曲线上可以看出，自然电位幅度ΔUSP随地层厚度的变薄而降低，而且曲线变得平缓。由于地层厚度变薄后，自然电流经过地层的截面变小，式(1.1.12)中的rsd增加，使得ΔUSP与SSP差别加大。
1.1.3.7井径扩大和泥浆侵入的影响
井径扩大使井的截面加大，式(1.1.12)中rm相应减小，因此ΔUSP降低。
在有泥浆侵入的渗透层井段所测的自然电位幅度ΔUSP比同样的渗透层没有泥浆侵入时所测得的ΔUSP要低。这是由于泥浆侵入使地层水和泥浆滤液的接触面向地层内部推移的缘故，相当于产生自然电场的场源与测量电极M之间的距离加大，而测量的自然电位下降。侵入越深，测得的ΔUSP越低。
1.1.4 自然电位测井的应用
自然电位测井是一种最常用的测井方法，有着广泛的用途。
1.1.4.1 划分渗透性岩层
一般将大段泥岩层的自然电位测井曲线作为泥岩基线，偏离泥岩基线的井段都可以认为是渗透性岩层。渗透性很差的地层，常称为致密层，其自然电位测井曲线接近泥岩基线或者曲线的幅度异常很小。
识别出渗透层后，可用自然电位测井曲线的半幅点来确定渗透层界面，进而计算出渗透层厚度。半幅点是指泥岩基线算起1/2幅度所在位置。对于岩性均匀、界面清楚、厚度满足 的渗透层，利用半幅点划分岩层界面是可信的。如果储集层厚度较小，自然电位测井曲线异常较小，利用半幅点求出的厚度将大于实际厚度，一般要与其他纵向分辨率较高的测井曲线一起来划分地层。
1.1.4.2 地层对比和研究沉积相
自然电位测井曲线常常作为单层划相、井间对比、绘制沉积体等值图的手段之一，这是因为它具有以下特点，见图1.1.9。
1)单层曲线形态能反映粒度分布和沉积能量变化的速率。如柱形表示粒度稳定，砂岩与泥岩突变接触;钟形表示粒度由粗到细，是水进的结果，顶部渐变接触，底部突变接触，漏斗形表示粒度由细到粗，是水退的结果，底部渐变接触，顶部突变接触;曲线光滑或齿化程度是沉积能量稳定或变化频繁程度的表示。这些都同一定沉积环境形成的沉积物相联系，可作为单层划相的标志之一。
2)多层曲线形态反映一个沉积单位的纵向沉积序列，可作为划分沉积亚相的标志之一。
3)自然电位测井曲线形态较简单，又很有地质特征，因而便于井间对比，研究砂体空间形态，后者是研究沉积相的重要依据之一。
4)自然电位测井曲线分层简单，便于计算砂泥岩厚度、一个沉积体的总厚度、沉积体内砂岩总厚度、沉积体的砂泥比等参数，按一个沉积体绘出等值图，也是研究沉积环境和沉积相的重要资料。如沉积体最厚的地方指出盆地中心，泥岩最厚的地方指出沉积中心，砂岩最厚和砂泥比最高的地方指出物源方向，沉积体的平面分布则指出沉积环境。
图1.1.9 自然电位测井曲线形态特征
1.1.4.3 确定地层水电阻率
在评价油气储集层时，需要用到地层电阻率资料。利用自然电位测井曲线确定地层水电阻率是常用的方法之一。
选择厚度较大的饱含水的纯砂岩层，读出自然电位幅度ΔUSP，校正成静自然电位USSP，并根据泥浆资料确定泥浆滤液电阻率Rmf。对于低浓度的地层水和泥浆滤液来说，利用式(1.1.8)可以求出地层水电阻率Rw。在浓度较高的情况下，溶液的浓度与电阻率不是简单的线性反比例关系，此时可以引入“等效电阻率”的概念，即不论溶液浓度如何变化，溶液的等效电阻率与浓度之间保持线性反比例关系。式(1.1.8)可以改写为:
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式中:Rmfe为泥浆滤液等效电阻率，Ω·m;Rwe为地层水等效电阻率，Ω·m。
利用上式可以求出地层水等效电阻率，再根据溶液电阻率与等效电阻率的关系图版可以求出地层水电阻率。
1.1.4.4 估算泥质含量
自然电位测井曲线常被用来估算砂泥岩地层中的泥质含量，估算方法有以下几种。
方法一。利用经验公式估算，当砂泥岩地层中所含泥质呈层状分布形成砂泥质交互层，且泥质层与砂质层的电阻率相等或差别不大时，地层的泥质含量可用下式求得:
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式中:UPSP为含泥质砂岩的自然电位测井曲线幅度，mV。
方法二。利用岩心分析资料和数理统计方法，找出自然电位与泥质含量之间的关系，建立泥质含量计算模型，然后利用这种模型来求取泥质含量。该方法适合于具有较多岩心分析资料的地区。
1.1.4.5 判断水淹层
在油田开发过程中，常采用注水的方法来提高油气采收率。如果一口井的某个油层见到了注入水，则该层就叫水淹层。油层水淹后，自然电位测井曲线往往发生基线偏移，出现台阶，见图1.1.10。因此，常常根据基线偏移来判断水淹层，并根据偏移量的大小来估算水淹程度。
图1.1.10 水淹层自然电位测井曲线示意图
㈢ 关于c语言表达式值的判断
常见的笔记本故障大全笔记本电脑由于其结构的特殊性，决定了其维修的复杂性。但笔记本电脑终究是电脑的一种，它的维修原理与普通台式机是基本相同的。如果你是一位笔记本电脑用户，而且对它的维修方面的知识感兴趣，那么你可以参看本文，这里列举了一些解决笔记本电脑故障的分析处理过程，也许会使你得到一些帮助。
笔记本常见故障-开机不亮-硬件判断
－－－笔记本电脑主板BIOS出现故障会引起开机不亮
－－－笔记本电脑CPU出现故障笔记本液晶屏无反应,也是开机不亮的原因。
－－笔记本电脑信号输出端口出现故障会引起开机不亮
－－－笔记本电脑主板显卡控制芯片出现故障会引起开机不亮
－－－笔记本电脑显卡出现故障会引起开机不亮
－－－笔记本电脑内存出现故障会引起开机不亮
笔记本电池充不进电-硬件故障判断
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－－－笔记本电脑电池出现故障会引起电池充不进电。
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笔记本不认外设-硬件故障判断
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－－－笔记本电脑BIOS出现故障设置出错会引起笔记本不认外设。
－－－笔记本电脑主板外设相关接口出现故障会引起笔记本不认外设
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笔记本主板出现故障会引发如下现象特征
－－－笔记本电脑开机后不认笔记本硬盘。
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－－－笔记本电脑电池不充电。
－－－笔记本电脑定时或不定时关机。
－－－笔记本电脑键盘不灵。
－－－笔记本电脑开机时有时会掉电。
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笔记本电源适配器引起的故障现象
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－－笔记本电脑光驱读DVD或容易死机或掉电。
－－笔记本电脑运行大行程序容易死机或掉电。
以上这些故障现象都与记本电源适配器相关
笔记本光驱介绍
笔记本光驱──机械驱动部分。
笔记本光驱──激光头组件。
笔记本光驱故障主要来自这两个部位（笔记本光驱）。
一、驱动机械部分主要由3个小电机为中心组成：盘片加载机构由控制进、出盒仓（加载）的电机组成，主要完成光盘进盒（加载）和出盒（卸载）；激光头进给机构由进给电机驱动，完成激光头沿光盘的半径方向由内向外或由外向内平滑移动，以快速读取光盘数据；主轴旋转机构主要由主轴电机驱动完成光盘旋转，一般采用DD控制方式，即光盘的转轴就是主轴电机的转轴。
二、激光头组件各种光驱最重要也是最脆弱的部件，主要种类有单光束激光头、三（多）光束激光头、全息激光头等几类。它实际是一个整体，普通单光束激光头主要由半导体激光器、半透棱镜/准直透镜、光敏检测器和促动器等零部件构成
笔记本光驱常见故障解析
笔记本光驱最常见的故障是机械故障，其次才是电路方面故障，而且电路故障中由用户调整不当引起的故障要比元器件损坏的故障多得多，所以在拆解或维护光驱设备时不要随便调整笔记本光驱内部各种电位器
笔记本光驱常见故障主要有三类：操作故障、偶然性故障和必然性故障。
1、操作故障例如驱动出错或安装不正确造成在Windows或DOS中找不到笔记本光驱；笔记本光驱连接线或跳线错误使笔记本光驱不能使用；CD线没连接好无法听CD；笔记本光驱未正确放置在拖盘上造成光驱不读盘；光盘变形或脏污造成画面不清晰或停顿或马赛克现象严重；拆卸不当造成光驱内部各种连线断裂或松脱而引起故障等。
2、偶然性故障笔记本光驱随机发生的故障，如机内集成电路，电容，电阻，晶体管等元器件早期失效或突然性损坏，或一些运动频繁的机械零部件突然损坏，这类故障虽不多见，但必须经过维修及更换才能将故障排除，所以偶然性故障又被称为"真"故障。
3、必然性故障笔记本光驱在使用一段时间后必然发生的故障，主要有：激光二极管老化，读碟时间变长甚至不能读碟；激光头组件中光学镜头脏污/性能变差等，造成音频/视频失真或死机；机械传动机构因磨损、变形、松脱而引起故障。
需要说明的是必然性故障的维修率不仅取决于产品的质量，而且还取决于用户的人为操作和保养及使用频率与环境。
常见故障的判断
1、开机检测不到光驱先检查一下光驱跳线跳正确与否；然后检查光驱IDE接口是否插接不良，如没有，可将其重新插好、插紧；最后，有可能是数据线损坏
2、进出盒故障表现为不能进出盒或进出盒不顺畅，可能原因及排除方法是，进出盒仓电机插针接触不良或电机烧毁--可重插或更换；进出盒机械结构中的传动带（橡皮圈）松动打滑
3、激光头故障故障现象表现为挑盘（有的盘能读，有的盘不能读）或者读盘能力差。光驱使用时间长或常用它看VCD或听CD，激光头物镜变脏或老化。
★敬告大家千万不要使用市面上销售的一些低价劣质光头清洁盘，因为这些盘的刷毛太硬，反而会刮花物镜，并且还有可能引起静电危害，缩短光驱使用寿命。
4、激光信号通路故障指的是激光头与电路板之间的连接线，是激光头与其他电路信息交换的通道。此处产生故障较多。。
5、主轴信号通路故障一般情况下，主轴电机与其驱动电路是合二为一的，称为主轴信号通路，此电路也由一条与激光信号通路连线一样的连接线连接，只不过股数不一样罢了。由于它与激光头信息通路都是由伺服电路进行信息沟通的。因而，在故障现象上有许多相似的地方，但由于激光头信息通路在进出盒时，其连接线易被拉折而损坏，所以在遇到相同故障现象时应先考虑激光头信息通路故障，再考虑主轴信号通路故障。
笔记本键盘如果出现故障引起的故障现象
笔记本电脑使用的故障主要有开不了机。
笔记本在使用过程中时而出现死机。
笔记本键盘的某个键出现使用不灵。
硬件故障现象
一、不加电 (电源指示灯不亮)
1. 检查外接适配器是否与笔记本正确连接，外接适配器是否工作正常。
2. 如果只用电池为电源，检查电池型号是否为原配电池；电池是否充满电；电池安装的是否正确。
3. 检查DC板是否正常；
4. 检查、维修主板
二、电源指示灯亮但系统不运行，LCD也无显示
1. 按住电源开关并持续四秒钟来关闭电源，再重新启动检查是否启动正常。
2. 外接CRT显示器是否正常显示。
3. 检查内存是否插接牢靠。
4. 清除CMOS信息。
5. 尝试更换内存、CPU、充电板。
6. 维修主板
三、显示的图像不清晰
1. 检测调节显示亮度后是否正常。
2. 检查显示驱动安装是否正确；分辨率是否适合当前的LCD尺寸和型号。
3. 检查LCD连线与主板连接是否正确； 检查LCD连线与LCD连接是否正确。
4. 检查背光控制板工作是否正常。
5. 检查主板上的北桥芯片是否存在冷焊和虚焊现象。
6. 尝试更换主板。
四、无显示
1. 通过状态指示灯检查系统是否处于休眠状态，如果是休眠状态，按电源开关键唤醒。
2. 检查连接了外接显示器是否正常。
3. 检查是否加入电源。
4. 检查LCD连线两端连接正常。
5. 更换背光控制板或LCD。
6. 更换主板。
五、电池电量在Win98 / Win Me中识别不正常
1. 确认电源管理功能在操作系统中启动并且设置正确。
2. 将电池充电三小时后再使用。
3. 在Windows 98 或Windows Me中将电池充放电两次。
4. 更换电池。
六、触控板不工作
1. 检查是否有外置鼠标接入并用MOUSE测试程序检测是否正常。
2. 检查触控板连线是否连接正确。
3. 更换触控板
4. 检查键盘控制芯片是否存在冷焊和虚焊现象
5. 更换主板
七、串口设备不工作
1. 在BIOS设置中检查串口是否设置为“ENABLED”
2. 用SIO测试程序检测是否正常。
3. 检查串口设备是否连接正确。
4. 如果是串口鼠标，在BIOS设置检查是否关闭内置触控板；在Windows 98 或Me的设备管理器中检查是否识别到串口鼠标；检查串口鼠标驱动安装是否正确。
5. 更换串口设备。
6. 检查主板上的南桥芯片是否存在冷焊和虚焊现象。
7. 更换主板。
八、并口设备不工作
1. 在BIOS设置中检查并口是否设置为“ENABLED”。
2. 用PIO测试程序检测是否正常。
3. 检查所有的连接是否正确。
4. 检查外接设备是否开机。
5. 检查打印机模式设置是否正确。
6. 检查主板上的南桥芯片是否存在冷焊和虚焊现象。
7. 更换主板。
九、USB口不工作
1. 在BIOS设置中检查USB口是否设置为“ENABLED”。
2. 重新插拔USB设备， 检查连接是否正常。
3. 检查USB端口驱动和USB设备的驱动程序安装是否正确。
4. 更换USB设备或联系USB设备制造商获得技术支持。“ENABLED”
5. 更换主板。
十、声卡工作不正常
1. 用AUDIO检测程序检测是否正常。
2. 检查音量调节是否正确。
3. 检查声源（CD、磁带等）是否正常。
4. 检查声卡驱动是否安装。
5. 检查喇叭及麦克风连线是否正常。
6. 更换声卡板
7. 更换主板。
十一、风扇问题
1. 用FAN 测试程序检测是否正常，开机时风扇是否正常
2. FAN线是否插好?
3. FAN是否良好?
4. M/B部分的CONNECTER是否焊好?
5. 主板不良
十二、KB问题
1. 用KB测试程序测试判断
2. 键盘线是否插好?
3. M/B部分的CONNECTER是否有针歪或其它不良
4. 主板不良
软件故障的分类
十三、驱动程序类
1. 显示不正常；
2. 声卡不工作；
3. Modem，LAN不能工作
4. QSB不能使用
5. 某些硬件因没有加载驱动或驱动程序加载不正确而不能正常使用
十四、操作系统类
1. 操作系统速度变慢
2. 有时死机
3. 机型不支持某操作系统
4. 不能正常关机
5. 休眠死机
十五、应用程序类
1. 应用程序冲突导致系统死机
2. 应用程序导致不系统不能正常关机
3. 应用程序冲突导致不能正常使用
一．电池使用问题
1、新电池需要像手机一样充电12小时么？
虽然笔记本电脑的电路设计要比手机完善许多，但是为了让新电池能够以更好的状态投入工作，电池的激活和校准工作还是需要进行的，厂商通用的做法是新笔记本在第一次开机时电池应带有3％的电量，此时，应该先不使用外接电源，而是把电池里的余电用尽，直至关机，然后再用外接电源充电。然后还要把电池的电量用尽后再充，充电时间一定要超过12小时，反复做三次，以便激活电池。
2、为什么电池没用使用电量也减少了？
由于环境湿度和非绝对绝缘环境的影响，电池都存在自然消耗的现象，视电池的新旧程度和品质，3-4天会下降1％左右，所以只要不是大幅度的下降都属于正常现象。
3、使用电源需要把电池取下么？
一般笔记本电脑的充电设计都是在电量低于95%才会充电的，而且由于自然损耗的存在，所以对于电池的损耗，取下与不取下基本都是相同的，因此是否取下视习惯而定，如果取下建议将电池包裹在保鲜膜内并放置于干燥阴凉处，且记得1个月左右至少使用一次电池并充电，以避免电池失去活性。
4、电池没有完全用完就充电是否会减少寿命？
电池的寿命一般按照完全充电次数计算，Li电池一般为300-400次。当然你不必担心接通电源对电池进行一次充电，哪怕只有一点就会被计算一次，电池的充电次数一般只有当电量累计充至80－90％才会增加一次，所以不用担心。在此还要说下，笔记本电池通常用的是锂电池，所以要避免在高温环境下使用锂电池，专家研究，高温状态下会加速锂电池的老化过程，并且同样的不要在极端的低温环境下使用。低温环境会降低锂电池的活性，降低笔记本电池的寿命。定期为锂电池进行激活处理，就是完全充电和放电，让锂电池恢复最大容量。做法就是，关闭所有电源管理，让笔记本慢慢的放电直至完全没电，然后在完全充电，重复两到三次即可。炎热的天气里，尽可能的维护好自己的自己的笔记本电池，才能让笔记本电脑更好的发挥自身的作用。
二．笔记本散热问题
目前笔记本散热一般都采用的散热管散热、键盘对流散热、温控风扇三级散热方式。个人认为技术比较先进的还是IBM和东芝，虽然东芝的本本不被很多人看好。
1、为什么风扇在开机的时候转一下就再也不转了？
由于笔记本电脑的温控设计，所以开机风扇自检后就会停止旋转，只有当机内达到一定温度时才会加速旋转，这也是为什么当你进行高负荷工作，诸如播放高解码率视频，3D游戏等时风扇高速旋转的原因。
2. 使用笔记本应注意周围环境吗？
使用笔记本的时候，要注意周围环境的整洁，通常笔记本最理想的工作温度是在10℃~35℃，且湿度不要太大。尤其在炎热的夏季，要保持周围环境的通风良好, 尽量在空调间里使用笔记本。电脑外壳上的凹槽和开口是用来通风的。为了确保电脑能可靠的工作并防止过热，请勿阻塞或遮盖这些开口。请勿将电脑摆放在腿上、床上或者沙发上，这些都是不可取的，柔软的东西都将笔记本底部的散热孔堵住，使得笔记本的热量无法顺利导出从而出现故障。可以在机器的底部从后端垫些书本之类的东西（偶用的是红茶的瓶子盖），让笔记本的底面与桌面保持一些空间，笔记本的底部就不会紧贴在桌面上。这样会有更多的热量从底部散发出去，或者你也可以加一个散热的底座来加大笔记本底部风流速度。市场上还出现了一些散热的外置装备，类似于U盘之类的或者内置的散热模块，不过偶还没有用过。
3. 关闭笔记本：
当你完成了工作，关闭笔记本，尽量让你的笔记本好好休息。
不要让你的笔记本开着的时候放在包包里
。经常清洁通风口，笔记本内置的风扇都有一个通风口。过了一段时间，通风口就会积聚着灰尘，这些灰尘会堵塞通风口。
同时必要的时候你可以用诊断工具测试笔记本的风扇是否工作正常。如果有专门的工具，你也可以打开风扇的地方，清除灰尘。
4. 升级笔记本的BIOS：
有时候，发热意味着计算机风扇的控制器需要BIOS升级。新版本的BIOS可以使得笔记本风扇工作得更有效率。如果你觉得你的笔记本变得越来越热，你不妨到网站上查看是否有新的BIOS提供。
笔记本的散热至今还没有很完美的，随着功能的强大，产热量会越大，这样的也给散热系统带来了压力，一般的笔记本问题用专业软件检测，像现在的这个天气（室温在30度左右）CPU和硬盘的温度大约在60度以上也属于正常。
三．屏幕问题
1.亮点和坏点
所谓坏点，是指LCD液晶显示器屏幕上无法控制的恒亮或恒暗的点。坏点的造成是LCD面板生产时因各种因素造成的瑕疵，如可能是某些细小微粒落在面板里面，也可能是静电伤害破坏面板，还有可能是制程控制不良等等。
坏点分为两种：亮点与暗点。亮点就是在任何画面下恒亮的点，切换到黑色画面就可以发现；暗点就是在任何画面下恒暗的点，切换到白色画面就可以发现。一般刚买回来的笔记本或者在买的时候，用软件检测下屏幕的亮点或者坏点，一般根据品牌不同，对这个的标准不同德，一般不能多于三个。检测软件用MonitorTest就可以了。同时，平时要减少屏幕在日光下暴晒的可能，白天使用，尽量拉上窗帘，以防屏幕受日照后，温度过高会加快老化
2.如何擦屏幕
如果仅仅是灰尘，那么可以先用气吹将灰尘尽量吹去，然后再用湿润的软布擦拭，软布要拧干，否则水可能会顺着屏幕表面流入高压包中造成屏幕损坏。如果是油污或者较难去除的污渍可以购买液晶屏幕专用清洁剂清除，切记不要使用没有质量保障的清洁剂，否则其中的醇类等腐蚀性化学成分会对屏幕造成损伤。中关村一般卖笔记本带的是亮洁的清洁套装，用这个就可以。切忌：勿用手或者硬东西擦拭屏幕。
3是否要贴膜？
本人不建议贴膜，虽说屏幕膜会对它起一个保护作用，但是这个位置一般是伤不到的，贴膜本身的成分会对屏幕有一定得伤害，还会影响散热。
4.有时候使用电池的时候屏幕会发出吱吱的声音
一般最新的笔记本没有这个问题了，老些的电脑或者质量部好的会有这个问题，就这个问题需要从两方面来解释：其一，在电池供电的时候，由于笔记本电脑节能特性的作用，整个笔记本电路的电压是在不断的变化的，这时通过屏幕高压包中的通电线圈的电流是处在不断的变化中的，而这个时候高压线圈发出的变频声也是中学物理知识所涉及的。如果笔记本电脑的电磁屏蔽较差，这种声音就会被用户听到，因此我们说这种现象在一些技术功底较弱的品牌的笔记本电脑中较为常见，实际很多朋友反应电源适配器会发生声音也是这个原因造成的。其二，这种声音也可能是高频噪音，这种声音和其一所述的声音最大的不同是高频噪音是一种会令人抓狂的声音，相信听过这种声音的朋友都会有所体会。一般这种声音属于主板设计缺陷，如果情况比较普遍，厂商都会发布解决此问题的BIOS更新文件，比如近期的IBM T40、HP NC6000都不同程度存在这个问题，厂商也已经发布了新的BIOS以供解决。
2012-7-22 18:14:02z股
㈣ 自然电位曲线的应用
（一）划分渗透性岩层
井内泥浆和地层水的矿化度有较明显的差别时，渗透性地层在自然电位曲线上一般都有明显的异常显示，从砂泥岩剖面上可划分出渗透性地层。
砂岩层的渗透性好坏和岩石中含泥质多少有直接关系，而自然电位曲线也受岩石中泥质含量的影响。一般渗透性好的地层（岩粒粗、分选好、含泥少），在地层水矿化度大于泥浆矿化度的情况下，自然电位为较大的负异常；渗透性差、致密的地层（岩粒细、分选差、含泥多），自然电位为较小的负异常。因此根据自然电位曲线可以粗略判断岩层的渗透性。
砂岩层含有泥质夹层，自然电位曲线能清楚地反映出来。所以，不仅利用自然电位曲线定性地划分渗透性地层，还可以综合利用自然电位曲线和微测井曲线，确定储层有效厚度。
（二）确定地层水电阻率
确定地层水电阻率时，要选择地层厚度足够大、泥浆侵入不明显、泥质含量低的含水砂层。根据岩层电阻率、地层厚度和井径等数据，把自然电位值校正到静自然电位（USSP≈Eda），然后利用关系式，在已知Kda、Rmf值情况下，求出地层水电阻率Rw。
步骤归纳如下。
1）从自然电位曲线上读出幅值USP，然后利用图1-53按已知地层厚度h、岩层电阻率Rt和泥浆电阻率Rm，求出校正系数α（自然电位/静自然电位），则静自然电位SSP（或扩散吸附电动势）为
地球物理测井
2）根据已知的地层温度和扩散吸附电动势系数，计算地层温度下的扩散吸附电动势系数：
地球物理测井
3）根据按式求出比值。这一步可按图1-56所示图版进行。图版的横坐标为静自然电位，纵坐标为，曲线模数为温度。根据已知的SSP值，在纵坐标轴上找出对应的点，由该点引垂线向上交于模数为已知温度的线上，由该交点引水平线交于横坐标轴一点，则该点读数即为。
4）根据本地区Rm与Rmf关系数据表读出Rmf；则地层水电阻率为
地球物理测井
在浓度高或其他水型时，浓度和电阻率就不保持准确的反比关系。因此，Rw和Rmf都是某一等效值（Rw）e和（Rmf）e，按上面求得的比值为。
地球物理测井
根据泥浆电阻率求出的Rmf，如果大于0.1 Ω·m，则根据经验可以取（Rmf）e=0.85Rmf。如果小于0.1 Ω·m，则利用图1-57实线部分由Rmf找出（Rmf）e。由（Rmf）e按下式求出（Rw）e：
地球物理测井
最后利用图1-58求出Rw。
（三）计算泥质含量
砂岩储集层中泥质是影响油气层渗透性和孔隙性的关键因素之一，同时又是其沉积环境的指示标准。因此，在进行测井定量解释时，首先要计算出地层泥质含量。从自然电位测井方法的原理可知，其受到泥质含量的影响，因而可用来求泥质含量。求泥质含量的基本思路是：利用实验直接建立起自然电位（经岩层厚度和电阻率校正）和泥质含量的关系或泥质地层与砂岩地层自然电位比值和泥质含量的关系。根据这种关系，不难建立起自然电位曲线确定泥质含量的经验公式。
1.自然电位减小系数法
自然电位减小系数α：
地球物理测井
式中UPSP为假静自然位，即解释地层相当厚时的自然电位幅度，或在经厚度校正的薄层的USP值。则泥质含量Vsh经验公式：
图1-56 根据静自然电位确定视地层水电阻率
图1-57 盐水泥浆的Rmfe关系曲线
地球物理测井
其中USSP为纯厚砂岩的静自然电位。
2.自然电位曲线异常幅度相对值法
自然电位曲线异常幅度的相对值求泥质含量方法，首先用岩心资料建立自然电位曲线异常幅度相对值TSP与含泥量Vsh的关系，即
地球物理测井
式中USP为经过层厚和电阻率校正的解释地层的自然电位异常幅度；USP，max为标准层（纯砂岩或含泥量在区域内稳定的地层）的自然电位异常幅度。比值TSP与Vsh的关系由实验确定，当已知TSP之后便可以求出泥质含量。
用自然电位测井方法计算泥质含量，影响因素很多，所估计出的Vsh值反映的是泥质含量的上限值。为此，应尽可能多地采用几种测井方法单独计算泥质含量，然后取其中最小值作为泥质含量参数。例如，在砂泥岩剖面中，最多可采用五种常规测井方法计算泥质含量，即自然伽马（GR）、自然电位（SP）、补偿中子（CNL）、地层电阻率（RT）、中子寿命（NLL）。各种测井方法统一按以下经验公式计算泥质含量：
地球物理测井
图1-58 等效电阻率图版
地球物理测井
式中：CSHLG为解释层第i种测井曲线读数；CGMIN为纯砂岩层第i种测井曲线读数；CGMAX为纯泥岩层第i种测井曲线数值；LSH为解释层第i种测井曲线相对值；G为地区经验系数，由实验资料统计获得；Vshi为由第i种测井方法求出的泥质含量。
㈤ 用等电位法求解等效电路
等效电阻法是最常用的方法。串联电路的等效电阻等于各串联电阻之和。如两个电阻串联，有R=R1+R2。理解：把n段导体串联起来，总电阻比任何一段导体的电阻都大，这相当于增加了导体的长度。
并联电路的等效电阻的倒数等于各支路电阻的倒数之和。如两个电阻并联，有1/R=1/R1+1/R2。理解：把n段导体并联起来，总电阻比任何一段导体的电阻都小，这相当于增加了导体的横截面积。
(5)自然电位计算电阻率c语言程序扩展阅读：
任何一个有源线性二端网络，对外电路来说，都可以用一个等效电流源来代替。等效电流源的源电压等于有源二端网络的短路电流。
等效内阻等于有源二端网络所有电源作用等于零（理想电压源短接，其源电压为零；理想电流源开路，其源电流为零）后所得无源二端网络a,b间的等效内阻，这就是诺顿定理。
当用两个电源分别对同一电路或负载供电时，两个电源输出的电流及端电压完全相同，则说这两个电源作用等效。如果两个电流源为电流源和电压源，两者可以互换。电流源与电压源转换遵从以下原则：US=ISR0 (电流源内阻等于电流源内阻)。