Ⅰ 对某个模块进行并发测试，应该如何做。
那首先需要进行负载测试，然后进行压力测试。负载测试的测试数据是需要从需求说明书中分析出来的，这个自己当然不知道可以问一下用户，这个系统的大概访问量是多少，在什么时间段内访问量达到最大。。。。。
如果是压力测试的话，可以从少量用户开始不断的对系统进行加压，直到系统崩溃，这个当然需要用工具进行模拟了。
呵呵~~~本人也是初级，新手，不过可以讨论一下，建议如果以后这种专业性的问题可以到测试的论坛上问一下，就不会这麽冷清了。。。。
Ⅱ 用单片机检测多个线束通断的方法，线束很长的那种
大型航空设备需要很多控制装置和零部件，内部的导线很多，其内部的导线往往不是在整机安装时一根一根的接的，而是提前制作成线束。有一些线束是很多根线组合在一起的，其两端分别有输入接插端子和输出接插端子。
[0003]这些线束在安装到设备时，需要全检测试输入接插端子和输出接插端子是否连通，因为导线与接插端子的连接可能会接触不良，接插端子本身也会有问题，甚至导线也会因为损伤而导致不通。这种存在隐患的线束一旦安装到航空设备上会对整机的运行造成极大的安全隐患，容易发生航空事故。
[0004]而现有的用于检测线束通断的测试设备一般都需要配置不同类型的两种插接头，以用于连接线束的两端，此方法导致测试装置的内部结构很复杂，容易导致其制造成本的上升。另外，此类测试装置仅适用于批量单一类型的线束，采用依次向引脚发送脉冲电平，再进行判断对比，此种测试方法仅适用于测试点较少的线束，若对于测试点数较多的线束，则测试周期较长，费时费力。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型一种线束通断测试装置的目的是提供一种通用设备，可以适配插接测试多种不同类型的线束，测试不同类型的线束时，只需更换与线束对应的接插件模块即可。
[0006]为达成所述目的，本实用新型一种线束通断测试装置采用如下技术方案，包括能测试线束电路通断状态的测试机以及可转接线束的接插件模块，所述测试机的两侧固设有测试插板，其上设置有多孔式插座，所述接插件模块的一侧阵列设置有多个可拆卸的与所述多孔式插座电性联接的针脚，所述接插件模块的另一侧设有连接需测试的所述线束的插接接口，所述接插件模块进一步设有在所述针脚以及所述插接接口之间提供转接的转接电路。
[0007]进一步的，所述多孔式插座上阵列设置有多个测试插口，所述针脚与所述测试插口插接。
[0008]进一步的，所述插接件模块包括电路板，所述针脚与所述插接接口在所述电路板的两侧，所述转接电路设于电路板内。
[0009]进一步的，所述测试机设有用以显示输入、输出结果的LED屏。
[0010]进一步的，所述测试机的上部设有可方便携带的手持部位。
[0011]进一步的，所述测试机上设有提供操作的开始(Start)按键、方向(Direct1n)按键、确认(Confirm)按键，以及显示线束状态的红色及绿色指示灯。
[0012]通过上述技术方案，本实用新型一种线束通断测试装置在实现效果上可大为简化测试机的电器线路设计，便于系统集成。无需在测试机本体上设置大量不同的连接器元件。制造成本大为降低，另一方面，本线束通断测试装置的适用范围可得以广泛拓展，即设计出一套接插件模块，当需检测不同类型的线束时，只需更换与线束相匹配的插件模块即可。对多种接口的线缆，只需额外配置具有相同规格的接插件模块，使一台测试机即可测试具有多种不同类型的线束。
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型一种线束通断测试装置的示意图；
[0014]图2为本实用新型一种线束通断测试装置的一种3端子接插件模块电路示意图；
[0015]图3为本实用新型一种线束通断测试装置的一种4端子接插件模块电路示意图；
[0016]图4为本实用新型一种线束通断测试装置的一种6端子接插件模块电路示意图；
[0017]图5为本实用新型一种线束通断测试装置的显示界面。
【具体实施方式】
[0018]下面将结合本实用新型一种线束通断测试装置实施例的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。如图1所示，一种线束通断测试装置100，包括能测试多个电路通断状态的测试机10以及可转接多种类型线束的接插件模块20。
[0019]所述的测试机10的两侧设有固设于测试机10两侧的测试插板11，测试插板11为矩形，测试插板11的一侧与测试机10内设置的电路板(未图示)相连通，另一侧暴露出测试机10的外表面并设置有与接插件模块20相匹配的多孔式插座12。该多孔式插座12上阵列设置有多个测试插口 13。
[0020]在测试机10的上部还设有可方便用户携带的手持部位19。
[0021]该线束通断测试装置100还设有与测试插板11的多针式插座12相匹配的，可提供转接多种类型线束功能的接插件模块20。该接插件模块20的一侧为与线束匹配的接插接口 21，另一侧为可插接到多孔式插座12上阵列设置的多个测试插口 13的针脚22，接插件接口 20及针脚22均设置于电路板23上。
[0022]该接插件模块20是个提供转接作用的通用设备，可以将需要测试的配套类型的线束连接在测试机10。在结构上，与线束相连的接插接口 21可以设置为所需的各种标准连接器的接口类型，以提供对多种类型线束的连接服务。其另一侧与多孔式插座12相配合的针脚22则为配置成对应多孔式插座12的具有统一的结构的样式，接插接口 21内的导电端子与针脚22在接插件模块20的内部电性转接。这样，测试不同类型线束时，只需要更换与所测试线束相匹配的接插件模块20即可。
[0023]图2至图4所示分别为某3端子、4端子和6端子接插件模块20电路示意图。实线的方框为假设的接插件模块20的边缘。点画线圆框为假定的接插接口 21的边缘。编号A1至A6的实心圆点为电路板23上与多孔式插座12相插接的针脚22 (针脚22的编号方式也可对应设置为第一列为Al、A2、A3......;第二列为Bl、B2、B3......;第三列为Cl、C2、
C3……等；依次类推)。编号为A至D或1至4等的虚线圆孔为接插接口的端子。实心圆点与虚线圆孔之间连接的实线为设置在电路板23 —侧的转接电路，实心圆点与虚线圆孔之间连接的虚线为设置在电路板另一侧的转接电路。测试机10的两侧的多孔式插座12的测试插口 13的编号方式也可为第一列为A1、A2、A3……；第二列为Bl、B2、B3……；第三列为C1、C2、C3……等；依次类推，与接插件模块20的编号方式相同，接插件模块20与测试机10插接时只需对应编号即可。
[0024]请一并参照图5所示，本实用新型一种线束通断测试装置100的工作方式为，找到与所测试线束相匹配的接插件模块20，插接到测试机10左右侧面的多孔式插座12。插上待检线束。按下位于测试机10右侧的开始(Start)按键18开机，位于测试机10左侧的LED屏14上出现如图所示的界面15，用右侧的方向(Direct1n)按键16在LED屏14上的数字区输入线束编号，按确认(Confirm)按键17进行测试。最后如果线束测试结果所有针脚都正确，则LED屏14上方线束名称(Harness ID)位置的绿色指示灯亮。
[0025]如图5所示，若检测发现错误，则红色指示灯亮，并在IXD屏14显示如图3的错误的针脚号以及错误原因。若针脚22测试正确显示为绿色字体，若有错误则显示红色字体。
[0026]本实用新型一种线束通断测试装置100于测试机10的两侧仅需设置一种单一结构的多孔式插座12。采用一套可分离式的接插件模块20，接插件模块20的一端与线束的接插件匹配，另外一端与测试机10侧面的多孔式插座12匹配。接插件模块20所有针脚22都配满接触件，将线束接插件通过接插件模块20与测试机10实现电气连接。在实现效果上可大为简化测试机10的电器线路设计，便于系统集成。无需在测试机10本体上设置大量不同的连接器元件。制造成本大为降低。
[0027]另一个好处是本测试机10的适用范围可得以广泛拓展，即设计出一套接插件模块20，接插件模块20的一端与线束上接插件匹配，另外一端与测试机10侧面的多孔式插座12插匹配，该接插件模块20所有针脚22都配满接触件，将线束接插件通过接插件模块20与测试机10实现电气连接。当需检测不同类型的线束时，只需更换与线束相匹配的插件模块20即可。对多种接口的线缆，只需额外配置具有相同规格的接插件模块20即可，使一台测试机即可测试具有多种不同类型的线束。
[0028]本实用新型一种线束通断测试装置100可以快速的测试线束的通断，具有模块化的处理与测试线束接插件接口 20，测试效率高，操作简单，成本低。
[0029]以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种线束通断测试装置，包括能测试线束电路通断状态的测试机以及可转接线束的接插件模块，其特征在于:所述测试机的两侧固设有测试插板，其上设置有多孔式插座，所述接插件模块的一侧阵列设置有多个可拆卸的与所述多孔式插座电性联接的针脚，所述接插件模块的另一侧设有连接需测试的所述线束的插接接口，所述接插件模块进一步设有在所述针脚以及所述插接接口之间提供转接的转接电路。2.如权利要求1所述的线束通断测试装置，其特征在于:所述多孔式插座上阵列设置有多个测试插口，所述针脚与所述测试插口插接。3.如权利要求1所述的线束通断测试装置，其特征在于:所述插接件模块包括电路板，所述针脚与所述插接接口在所述电路板的两侧，所述转接电路设于电路板内。4.如权利要求1所述的线束通断测试装置，其特征在于:所述测试机设有用以显示输入、输出结果的LED屏。5.如权利要求1所述的线束通断测试装置，其特征在于:所述测试机的上部设有可方便携带的手持部位。6.如权利要求1所述的线束通断测试装置，其特征在于:所述测试机上设有提供操作的开始按键、方向按键、确认按键，以及显示线束状态的红色及绿色指示灯。
【专利摘要】一种线束通断测试装置,包括能测试线束电路通断状态的测试机以及可转接线束的接插件模块。所述测试机的两侧固设有测试插板，其上设置有多孔式插座，所述接插件模块的一侧阵列设置有多个可拆卸的与所述多孔式插座电性联接的针脚，所述接插件模块的另一侧设有连接需测试的所述线束的插接接口，所述接插件模块进一步设有在所述针脚以及所述插接接口之间提供转接的转接电路，可大为简化测试机的电器线路设计，便于系统集成，对多种接口的线缆，只需额外配置具有相同规格的接插件模块，使一台测试机即可测试具有多种不同类型的线束。
Ⅲ 如何测试W5300的内部TX/RX存储器
存储器测试的目的是确认在存储设备中的每一个存储位置都在工作。换一句话说，如果你把数50存储在一个具体的地址，你希望可以找到存储在那里的那个数，直到另一个数写入。任何存储器测试的基本方法是，往存储器写入一些数据，然后根据内存设备的地址，校验读回的数据。如果所有读回的数据和那些写入的数据是一样的，那么就可以说存储设备通过了测试。只有通过认真选择的一组数据你才可以确信通过的结果是有意义的。
当然，像刚才描述的有储器的测试不可避免地具有破坏性。在内存测试过程中，你必须覆盖它原先的内容。因为重写非易失性存储器内容通常来说是不可行的，这一部分描述的测试通常只适用于RAM 的测试。 一，普通的存储器问题
在学习具体的测试算法之前，你应该了解可能遇到的各种存储器问题。在软件工程师中一个普遍的误解是，大部分的存储器问题发生在芯片的内部。尽管这类问题一度是一个主要的问题，但是它们在日益减少。存储设备的制造商们对于每一个批量的芯片都进行了各种产品后期测试。因此，即使某一个批量有问题，其中某个坏芯片进人到你的系统的可能性是微乎其微的。
你可能遇到的一种类型的存储芯片问题是灾难性的失效。这通常是在加工好之后芯片受到物理或者是电子损伤造成的。灾难性失效是少见的，通常影响芯片中的大部分。因为一大片区域受到影响，所以灾难性的失效当然可以被合适的测试算法检测到。
存储器出问题比较普遍的原因是电路板故障。典型的电路板故障有：
（1）在处理器与存储设备之间的连线问题
（2）无存储器芯片
（3）存储器芯片的不正确插人
二，测试策略
最好有三个独立的测试：数据总线的测试、地址总线的测试以及设备的测试。前面两个测试针对电子连线的问题以及芯片的不正确插入；第三个测试更倾向于检测芯片的有无以及灾难性失效。作为一个意外的结果，设备的测试也可以发现控制总线的问题，尽管它不能提供关于问题来源的有用信息。
执行这三个测试的顺序是重要的。正确的顺序是：首先进行数据总线测试，接着是地址总线测试，最后是设备测试。那是因为地址总线测试假设数据总线在正常工作，除非数据总线和地址总线已知是正常的，否则设备测试便毫无意义。如果任何测试失败，你都应该和一个硬件工程师一起确定问题的来源。通过查看测试失败处的数据值或者地址，应该能够迅速地找出电路板上的问题。
1，数据总线测试
我们首先要测试的就是数据总线。我们需要确定任何由处理器放置在数据总线上的值都被另一端的存储设备正确接收。最明显的测试方法就是写人所有可能的数据值并且验证存储设备成功地存储了每一个。然而，那并不是最有效率的测试方法。一个更快的测试方法是一次测试总线上的一位。如果每一个数据上可被设置成为 0 和1，而不受其他数据位的影响，那么数据总线就通过了测试。
2，地址总线测试
在确认数据总线工作正常之后，你应该接着测试地址总线。记住地址总线的问题将导致存储器位置的重叠。有很多可能重叠的地址。然而，不必要测试每一个可能的组合。你应该努力在测试过程中分离每一个地址位。你只需要确认每一个地址线的管脚都可以被设置成0和 1，而不影响其他的管脚。
3，设备测试
一旦你知道地址和数据总线是正确的，那么就有必要测试存储设备本身的完整性。要确认的是设备中的每一位都能够保持住0和 1。这个测试实现起来十分简单，但是它花费的时间比执行前面两项测试花费的总时间还要长。
对于一个完整的设备测试，你必须访问（读和写）每一个存储位置两次。你可以自由地选择任何数据作为第一步测试的数据，只要在进行第二步测试的时候把这个值求反即可。因为存在没有存储器芯片的可能性，所以最好选择一组随着地址变化（但是不等于地址）的数。优化措施
市场上并不缺少提高数据存储效率的新技术，然而这些新技术绝大多数都是关注备份和存档的，而非主存储。但是，当企业开始进行主存储数据缩减时，对他们来说，了解主存储优化所要求的必要条件十分重要。
主存储，常常被称为1级存储，其特征是存储活跃数据――即经常被存取并要求高性能、低时延和高可用性的数据。主存储一般用于支持关键任务应用，如数据库、电子邮件和交易处理。大多数关键应用具有随机的数据取存模式和不同的取存要求，但它们都生成机构用来运营它们的业务的大量的数据。因此，机构制作数据的许多份拷贝，复制数据供分布使用，库存数据，然后为安全保存备份和存档数据。
绝大多数数据是起源于主数据。随着数据存在的时间增加，它们通常被迁移到二级和三级存储保存。因此，如果机构可以减少主数据存储占用空间，将能够在数据生命期中利用这些节省下来的容量和费用。换句话说，更少的主存储占用空间意味着更少的数据复制、库存、存档和备份。
试图减少主存储占用空间存储管理人员可以考虑两种减少数据的方法：实时压缩和数据去重。
直到不久前，由于性能问题，数据压缩一直没有在主存储应用中得到广泛应用。然而，Storwize等厂商提供利用实时、随机存取压缩/解压技术将数据占用空间压缩15:1的解决方案。更高的压缩率和实时性能使压缩解决方案成为主存储数据缩减的可行的选择。
在备份应用中广泛采用的数据去重技术也在被应用到主存储。目前为止，数据去重面临着一大挑战，即数据去重处理是离线处理。这是因为确定数量可能多达数百万的文件中的多余的数据块需要大量的时间和存储处理器做大量的工作，因此非常活跃的数据可能受到影响。当前，推出数据去重技术的主要厂商包括NetApp、Data Domain和OcarinaNetworks。 一、零性能影响
与备份或存档存储不同，活跃数据集的性能比能够用某种形式的数据缩减技术节省的存储容量更为关键。因此，选择的数据缩减技术必须不影响到性能。它必须有效和简单；它必须等价于“拨动一个开关，就消耗更少的存储”。
活跃存储缩减解决方案只在需要去重的数据达到非活跃状态时才为活跃存储去重。换句话说，这意味着实际上只对不再被存取但仍保存在活跃存储池中的文件――近活跃存储级――进行去重。
去重技术通过建议只对轻I/O工作负载去重来避免性能瓶颈。因此，IT基础设施的关键组件的存储没有得到优化。数据库排在关键组件清单之首。由于它们是1级存储和极其活跃的组件并且几乎始终被排除在轻工作负载之外，去重处理从来不分析它们。因此，它们在主存储中占据的空间没有得到优化。
另一方面，实时压缩系统实时压缩所有流经压缩系统的数据。这导致节省存储容量之外的意外好处：存储性能的提高。当所有数据都被压缩时，每个I/O请求提交的数据量都有效地增加，硬盘空间增加了，每次写和读操作都变得效率更高。
Ⅳ 多模块存储器的模块是存储芯片吗
多模块存储器：为提高访存速度，常采用多模块存储器，常用的有单体多字存储器和多体低位交叉存储器。CPU的速度比存储器块，若同时从存储器中取出n条指令，就可以充分利用CPU资源，提高运行速度。
存储器芯片属于通用集成电路，是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用。通过在单一芯片中嵌入软件，实现多功能和高性能，以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。
Ⅳ 跪求USB存储设备循环拷贝测试工具 V1.0 绿色免费版软件百度云资源
链接:
提取码:y4xw
软件名称:USB存储设备循环拷贝测试工具V1.0绿色免费版
语言:简体中文
大小:414.19KB
类别:系统工具
介绍:USB存储设备循环拷贝测试工具是一款非常好用的U盘设备循环拷贝测试工具，它可以帮助用户一键测试U盘的耐久度，还能够循环批量拷贝设定的文件数据到选定的设备分区中，是想要测试USB设备用户的最佳选择，赶快来试试吧。
Ⅵ 请比较多模块存储器的地址分配方案
首先，买一个三层的核心交换机，分出三个VLAN，分别连接三个大楼的中心交换机，因为你的机器数量较多，大楼之间建议用光纤连接。然后根据机器数量来分配IP，内部IP就可以了，不用申请外部的IP。
再在核心交换机的出口配置上申请的C类地址，做个路由，就可以通过核心交换机上网了，各个大楼内也可以互相访问共享，但是，如果你想各个大楼之间也可以互相访问和共享，那么要在核心交换里设置一下VLAN间的访问了。
(6)存储模块批量测试装置扩展阅读：
模块它具有两个基本的特征：外部特征和内部特征。外部特征是指模块跟外部环境联系的接口（即其他模块或程序调用该模块的方式，包括有输入输出参数、引用的全局变量）和模块的功能；内部特征是指模块的内部环境具有的特点（即该模块的局部数据和程序代码）。
模块有各种类型，如单元操作模块（换热器、精馏塔、压缩机等）、计算方法模块（加速收敛算法、最优化算法等）、物理化学性质模块（汽液相平衡计算、热焓计算等）等。
Ⅶ 06款桑塔纳p1603内部控制模块存储器校验和错误是什么故障码
常见硬件故障的检查方法
对于电脑的软故障，可以通过对故障现象进行分析，采取重装系统更换软件、修改软件程序或清除电脑病毒等方法来解决。而对于硬故障，则需要按检查原则一步一步地进行检查及排除，以下介绍十种硬故障的检查判断方法：
1.拔插法
“拔插法”是将插件“拔出”或“插入”来寻找故障的方法。例如，机器出现“死锁”现象，采用这种方法一块一块地拔出插件板，若机器恢复正常，说明故障出在该板上。
2.替换法
“替换法”是采用已确定是最好的器件来替换被怀疑有问题的器件，逐步缩小查找范围。
3.比较法
“比较法”是用正确的特征（波形或电压）与有故障机器的特征（波形或电压）进行比较，看哪一个组件的波形或电压不符，根据逻辑电路图逐极测量，使信号由追求源的方向逐点检测，分析后确定故障位置。
4.测量法
“测量法”也称“静态测量法”，就是设法把计算机暂停在某一特定状态，根据逻辑图，用万用表测量所需各点电平、分析判断故障的有效方法。
5.升温法
“升温法”就是人为地把环境温度升高，加速一些高温参数较差的元器件“死亡”来寻找故障的方法。
6.敲击法
机器运行时好时坏，可能是元件可组件的管脚虚焊或接触不良或金属通孔电阻增大等原因造成的。对这种情况，可用敲击法进行检查，用橡皮榔头轻轻敲击电路板，然后再检查就容易多了。
7.分割法
分割法就是故障“分割”开，逐步缩小件板，缩小到某条线上，再到某个点的方法。
8.直接观察法
真接观察法就是利用人的感官，直接观察火花、异常的声响、过热、烧焦等现象，确定电源短路、过流、过压以及插件松动、元件锈蚀损坏等明显故障。
9.隔离压缩法
即根据故障的现象和硬件部件，采取暂时断开有关部位的一些信息或简化原始数据来减少查找范围。
10.程序测试法
即利用开机自检程序、高级专用诊断程序来帮助查寻故障原因，诊断程序以菜单形式提供多项测硬驱、软驱、CD—ROM、打印机等检测，若硬件出现故障则显示错误、出响声从而获得故障点及其原因。
Ⅷ 说说hadoop官方的示例程序包中的常用测试模块有哪些
咨询记录 · 回答于2021-11-05
Ⅸ 安吉斯模块怎么测试
1、按#键返回。
2、系统测试 在“主菜单”中选择“1 系统自检”进入“系统自检”菜单(菜单 006)。
3、系统进入自检测试,显示“正在测试”。
4、系统对指示灯、音响进行测试,完成 后自动返回。
Ⅹ 存储器的测试
存储器测试的目的是确认在存储设备中的每一个存储位置都在工作。换一句话说，如果你把数50存储在一个具体的地址，你希望可以找到存储在那里的那个数，直到另一个数写入。任何存储器测试的基本方法是，往存储器写入一些数据，然后根据内存设备的地址，校验读回的数据。如果所有读回的数据和那些写入的数据是一样的，那么就可以说存储设备通过了测试。只有通过认真选择的一组数据你才可以确信通过的结果是有意义的。
当然，像刚才描述的有储器的测试不可避免地具有破坏性。在内存测试过程中，你必须覆盖它原先的内容。因为重写非易失性存储器内容通常来说是不可行的，这一部分描述的测试通常只适用于RAM 的测试。 一，普通的存储器问题
在学习具体的测试算法之前，你应该了解可能遇到的各种存储器问题。在软件工程师中一个普遍的误解是，大部分的存储器问题发生在芯片的内部。尽管这类问题一度是一个主要的问题，但是它们在日益减少。存储设备的制造商们对于每一个批量的芯片都进行了各种产品后期测试。因此，即使某一个批量有问题，其中某个坏芯片进人到你的系统的可能性是微乎其微的。
你可能遇到的一种类型的存储芯片问题是灾难性的失效。这通常是在加工好之后芯片受到物理或者是电子损伤造成的。灾难性失效是少见的，通常影响芯片中的大部分。因为一大片区域受到影响，所以灾难性的失效当然可以被合适的测试算法检测到。
存储器出问题比较普遍的原因是电路板故障。典型的电路板故障有：
（1）在处理器与存储设备之间的连线问题
（2）无存储器芯片
（3）存储器芯片的不正确插人
二，测试策略
最好有三个独立的测试：数据总线的测试、地址总线的测试以及设备的测试。前面两个测试针对电子连线的问题以及芯片的不正确插入；第三个测试更倾向于检测芯片的有无以及灾难性失效。作为一个意外的结果，设备的测试也可以发现控制总线的问题，尽管它不能提供关于问题来源的有用信息。
执行这三个测试的顺序是重要的。正确的顺序是：首先进行数据总线测试，接着是地址总线测试，最后是设备测试。那是因为地址总线测试假设数据总线在正常工作，除非数据总线和地址总线已知是正常的，否则设备测试便毫无意义。如果任何测试失败，你都应该和一个硬件工程师一起确定问题的来源。通过查看测试失败处的数据值或者地址，应该能够迅速地找出电路板上的问题。
1，数据总线测试
我们首先要测试的就是数据总线。我们需要确定任何由处理器放置在数据总线上的值都被另一端的存储设备正确接收。最明显的测试方法就是写人所有可能的数据值并且验证存储设备成功地存储了每一个。然而，那并不是最有效率的测试方法。一个更快的测试方法是一次测试总线上的一位。如果每一个数据上可被设置成为 0 和1，而不受其他数据位的影响，那么数据总线就通过了测试。
2，地址总线测试
在确认数据总线工作正常之后，你应该接着测试地址总线。记住地址总线的问题将导致存储器位置的重叠。有很多可能重叠的地址。然而，不必要测试每一个可能的组合。你应该努力在测试过程中分离每一个地址位。你只需要确认每一个地址线的管脚都可以被设置成0和 1，而不影响其他的管脚。
3，设备测试
一旦你知道地址和数据总线是正确的，那么就有必要测试存储设备本身的完整性。要确认的是设备中的每一位都能够保持住0和 1。这个测试实现起来十分简单，但是它花费的时间比执行前面两项测试花费的总时间还要长。
对于一个完整的设备测试，你必须访问（读和写）每一个存储位置两次。你可以自由地选择任何数据作为第一步测试的数据，只要在进行第二步测试的时候把这个值求反即可。因为存在没有存储器芯片的可能性，所以最好选择一组随着地址变化（但是不等于地址）的数。优化措施
市场上并不缺少提高数据存储效率的新技术，然而这些新技术绝大多数都是关注备份和存档的，而非主存储。但是，当企业开始进行主存储数据缩减时，对他们来说，了解主存储优化所要求的必要条件十分重要。
主存储，常常被称为1级存储，其特征是存储活跃数据――即经常被存取并要求高性能、低时延和高可用性的数据。主存储一般用于支持关键任务应用，如数据库、电子邮件和交易处理。大多数关键应用具有随机的数据取存模式和不同的取存要求，但它们都生成机构用来运营它们的业务的大量的数据。因此，机构制作数据的许多份拷贝，复制数据供分布使用，库存数据，然后为安全保存备份和存档数据。
绝大多数数据是起源于主数据。随着数据存在的时间增加，它们通常被迁移到二级和三级存储保存。因此，如果机构可以减少主数据存储占用空间，将能够在数据生命期中利用这些节省下来的容量和费用。换句话说，更少的主存储占用空间意味着更少的数据复制、库存、存档和备份。
试图减少主存储占用空间存储管理人员可以考虑两种减少数据的方法：实时压缩和数据去重。
直到不久前，由于性能问题，数据压缩一直没有在主存储应用中得到广泛应用。然而，Storwize等厂商提供利用实时、随机存取压缩/解压技术将数据占用空间压缩15:1的解决方案。更高的压缩率和实时性能使压缩解决方案成为主存储数据缩减的可行的选择。
在备份应用中广泛采用的数据去重技术也在被应用到主存储。目前为止，数据去重面临着一大挑战，即数据去重处理是离线处理。这是因为确定数量可能多达数百万的文件中的多余的数据块需要大量的时间和存储处理器做大量的工作，因此非常活跃的数据可能受到影响。当前，推出数据去重技术的主要厂商包括NetApp、Data Domain和OcarinaNetworks。 一、零性能影响
与备份或存档存储不同，活跃数据集的性能比能够用某种形式的数据缩减技术节省的存储容量更为关键。因此，选择的数据缩减技术必须不影响到性能。它必须有效和简单；它必须等价于“拨动一个开关，就消耗更少的存储”。
活跃存储缩减解决方案只在需要去重的数据达到非活跃状态时才为活跃存储去重。换句话说，这意味着实际上只对不再被存取但仍保存在活跃存储池中的文件――近活跃存储级――进行去重。
去重技术通过建议只对轻I/O工作负载去重来避免性能瓶颈。因此，IT基础设施的关键组件的存储没有得到优化。数据库排在关键组件清单之首。由于它们是1级存储和极其活跃的组件并且几乎始终被排除在轻工作负载之外，去重处理从来不分析它们。因此，它们在主存储中占据的空间没有得到优化。
另一方面，实时压缩系统实时压缩所有流经压缩系统的数据。这导致节省存储容量之外的意外好处：存储性能的提高。当所有数据都被压缩时，每个I/O请求提交的数据量都有效地增加，硬盘空间增加了，每次写和读操作都变得效率更高。
实际结果是占用的硬盘容量减少，总体存储性能显着提高。
主存储去重的第二个好处是所有数据都被减少，这实现了包括数据库在内的所有数据的容量节省。尽管Oracle环境的实时数据压缩可能造成一些性能问题，但迄今为止的测试表明性能提高了。
另一个问题是对存储控制器本身的性能影响。人们要求今天的存储控制器除了做伺服硬盘外，还要做很多事情，包括管理不同的协议，执行复制和管理快照。再向这些功能增加另一个功能可能会超出控制器的承受能力――即使它能够处理额外的工作负载，它仍增加了一个存储管理人员必须意识到可能成为潜在I/O瓶颈的过程。将压缩工作交给外部专用设备去做，从性能问题中消除了一个变数，而且不会给存储控制器造成一点影响。
二、高可用性
许多关注二级存储的数据缩减解决方案不是高可用的。这是由于它们必须立即恢复的备份或存档数据不像一级存储中那样关键。但是，甚至在二级存储中，这种概念也逐渐不再时兴，高可用性被作为一种选择添加到许多二级存储系统中。
可是，高可用性在主存储中并不是可选的选项。从数据缩减格式(被去重或被压缩)中读取数据的能力必须存在。在数据缩减解决方案中(其中去重被集成到存储阵列中)，冗余性是几乎总是高可用的存储阵列的必然结果。
在配件市场去重系统中，解决方案的一个组件以数据的原始格式向客户机提供去重的数据。这个组件就叫做读出器(reader)。读出器也必须是高可用的，并且是无缝地高可用的。一些解决方案具有在发生故障时在标准服务器上加载读出器的能力。这类解决方案经常被用在近活跃的或更合适的存档数据上;它们不太适合非常活跃的数据集。
多数联机压缩系统被插入系统中和网络上，放置(逻辑上)在交换机与存储之间。因此，它们由于网络基础设施级上几乎总是设计具有的高可用性而取得冗余性。沿着这些路径插入联机专用设备实现了不需要IT管理人员付出额外努力的无缝的故障切换；它利用了已经在网络上所做的工作。
三、节省空间
部署这些解决方案之一必须带来显着的容量节省。如果减少占用容量的主存储导致低于标准的用户性能，它没有价值。
主数据不具有备份数据通常具有的高冗余存储模式。这直接影响到总体容量节省。这里也有两种实现主数据缩减的方法：数据去重和压缩。
数据去重技术寻找近活跃文件中的冗余数据，而能取得什么水平的数据缩减将取决于环境。在具有高冗余水平的环境中，数据去重可以带来显着的ROI(投资回报)，而另一些环境只能取得10%到20%的缩减。
压缩对所有可用数据都有效，并且它在可以为高冗余数据节省更多的存储容量的同时，还为主存储应用常见的更随机的数据模式始终带来更高的节省。
实际上，数据模式冗余度越高，去重带来的空间节省就越大。数据模式越随机，压缩带来的空间节省就越高。
四、独立于应用
真正的好处可能来自所有跨数据类型(不管产生这些数据是什么应用或数据有多活跃)的数据缩减。虽然实际的缩减率根据去重数据的水平或数据的压缩率的不同而不同，但所有数据都必须合格。
当涉及存档或备份时，应用特有的数据缩减具有明确的价值，并且有时间为这类数据集定制缩减过程。但是对于活跃数据集，应用的特殊性将造成性能瓶颈，不会带来显着的容量缩减的好处。
五、独立于存储
在混合的厂商IT基础设施中，跨所有平台使用同样的数据缩减工具的能力不仅将进一步增加数据缩减的ROI好处，而且还简化了部署和管理。每一个存储平台使用一种不同的数据缩减方法将需要进行大量的培训，并造成管理级上的混乱。
六、互补
在完成上述所有优化主存储的工作后，当到了备份主存储时，最好让数据保持优化的格式(被压缩或去重)。如果数据在备份之前必须扩展恢复为原始格式，这将是浪费资源。
为备份扩展数据集将需要：
使用存储处理器或外部读出器资源解压数据;
扩展网络资源以把数据传送给备份目标；
把额外的资源分配给保存备份数据的备份存储设备。